Veyon知识库

<p>电子显微平台的选型首先取决于样品类型和目标信息：表面形貌、截面结构、晶体结构、元素分布和冷冻样品观察对应不同设备组合。SEM、TEM、FIB和冷冻电镜之间并不是简单替代关系。</p> <p>材料和半导体用户通常关注分辨率、加速电压范围、探测器配置、样品台精度、能谱/EBSD扩展和洁净环境要求。生命科学用户则更关注冷冻制样、低剂量成像、自动采集和图像重构流程。</p> <p>正式立项前应同步评估场地、电源、冷却水、振动、磁场、气源和运维人员配置，电子显微设备对安装环境和长期维护要求较高。</p>