Park FX40

## 官方资料摘要 品牌方页面标题：Park FX40 Park FX40 ## 官方信息要点 - 自动探针检测 完成定位之后，系统会设置合适的参数，连接悬臂并扫描样品，直到为您扫出高解析度高分辨率的图像。 - 额外的轴向可进行自动激光校准、早期预警和故障自动安全系统、同步化信息提取和存储， 让即便是未经原子力显微镜专业培训的研究科学家们也可以轻松快速地获得心仪的扫描结果。 - 自动探针检测，自动激光校准 简要的教学动画分分钟让您学会如何进行 样品放置以及仪器成像设置。 - 通过理想的速度和精度，推动您研发进步并助力您的科学新发现——FX40将人工智能运用得淋漓尽致， 全自动化的过程能实现用户纳米级显微镜的需求。 - 双摄像头系统 自动校准探针 和样品位置 自动识别扫码 自动更换探针 自动激光校准 样品台上可以同时放置高达四个不同量级的样品。即便如此，样品摄像头也可以轻松定位到相关位置进行精准扫描。探针识别系统可以帮助用户搜索相关探针的全部信息（包括探针类型，应用类型和使用信息等）使研究工作事半功倍。只需一键，Park FX40便可轻松助您选择所需要的探针。 ## 来源 - 官方页面：https://www.parksystems.com/cn/products/research-afm/small-sample-afm/fx40 - 采集时间：2026-07-26T08:58:53.680Z