Park NX20

## 官方资料摘要 品牌方页面标题：Park NX20 Park NX20 ## 官方信息要点 - 自动接合通过 Slide-to-Connect SLD 头 原子力显微镜 (AFM) 扫描头沿燕尾轨道快速滑入到位，自动锁定并精准连接到控制电子设备。超发光二极管 (SLD) 提供反射表面的精准成像，并实现精准的皮牛顿力-距离测量，而不干扰可见光谱实验。 - Brochure Brochure Request for Quote x 大样品的缺陷检测成像与分析 Park NX20拥有业界便捷的设计和自动界面，让你在使用时无需花费大量的时间和精力，也不用为此而时时不停的指导初学者。借助这一系列特点，您可以更加专注于解决更为重大的问题，并为客户提供及时且富有洞察力的失效分析报告。 - 高分辨率电子扫描模式 QuickStep SCM: 快捷的扫描式电容显微镜 PinPoint AFM: 无摩擦导电原子力显微镜 多种创新的前沿技术帮助顾客减少测试时间 通过对比重复扫描情况下探针针尖的形状变化，您可以轻易看到Park的真正非接触模式的优势所在。 - 借助真正非接触模式，探针针尖在扫描氮化铬样品（即探针检测样品）200次后仍可保持锋利的状态。氮化铬的表面粗糙且研磨性强，会让普通的探针很快变钝。 - Step Scan Automation 使用电动样品台，Step-and-Scan 可以实现用户可编程的多区域成像。此自动化功能通过减少重复成像过程中用户的协助来提高生产力。 ## 来源 - 官方页面：https://www.parksystems.com/cn/products/research-afm/large-sample-afm/nx20 - 采集时间：2026-07-26T08:58:53.680Z