FIB SEM | Scios 2 | Thermo Fisher Scientific - CN

## 官方资料摘要 品牌方页面标题：FIB SEM | Scios 2 | Thermo Fisher Scientific - CN FIB SEM（双束）显微镜能够以纳米尺度提供高分辨率、高级 3D 表征，以实现高质量的样品制备和 3D 表征。 ## 官方信息要点 - DualBeam 显微镜 Scios 2 DualBeam 聚焦离子束扫描电子显微镜，用于超高分辨率、高质量样品制备和 3D 表征。 - 了解更多 › APT 样品制备 原子探针断层扫描 (APT) 提供材料的原子分辨率 3D 组成分析。聚焦离子束 (FIB) 显微镜是一项为 APT 表征进行高质量、定向和特定样品制备的基本技术。 - 了解更多 › APT 样品制备 APT 样品制备 原子探针断层扫描 (APT) 提供材料的原子分辨率 3D 组成分析。聚焦离子束 (FIB) 显微镜是一项为 APT 表征进行高质量、定向和特定样品制备的基本技术。 - 超高分辨率成像 使用在最广泛的样品范围（包括磁性和非导电材料）内具有一流性能的 Thermo Scientific NICol 电子色谱柱。 - SEM扫描电镜 和 TEM透射电镜 工具结合专用的自动化软件，为过程监控和改进提供了快速、多尺度的信息。 ## 来源 - 官方页面：https://www.thermofisher.cn/cn/zh/home/electron-microscopy/products/dualbeam-fib-sem-microscopes/scios-2-dualbeam-microscope.html - 采集时间：2026-07-26T08:58:53.678Z