用于材料研究的共聚焦蔡司LSM 900

## 官方资料摘要 品牌方页面标题：用于材料研究的共聚焦蔡司LSM 900 蔡司LSM 900是面向材料科学、金相学、矿相学及工业质检领域的多功能激光共聚焦显微镜，也可无缝适配升级蔡司Axio系列正置、倒置主流光学镜体，融合传统光学显微与高精度共聚焦成像技术，可无损完成三维微观结构重构与非接触式表面形貌检测，精准测量表面粗糙度、涂层薄膜厚度，最高可达120nm高清成像。设备兼容偏光、荧光、透射及反射光等多种观测模式。广泛适用于金属、高分子复合材料、能源材料、陶瓷、电子器件以及生物材料等类别，可高效开展材质微观观测、粗糙度评价、断口分析、膜厚测量、磨损分析、孔隙检测与失效研判，大幅简化实验流程，满足材料科研与工业质检多重需求。 ## 官方信息要点 - 对整个样品进行三维成像 LSM 900共聚焦激光扫描显微镜共聚焦光路中使用激光捕获样品的特定光学切片，并在三维图像中堆栈。其孔径（通常称为针孔）的排列方式能够阻止接收焦平面外的信息，从而仅检测焦平面内的信息。 - 激光器配置 选择适合您应用的激光模块 在以下两个选项之间进行选择，扩展共聚焦显微镜的应用范围： 带紫外激光模块（405 nm波长）的单通道系统对应2类激光产品，可实现横向分辨率高达120 nm的成像 在生物材料上进行细胞生长成像等应用时，配置LSM 900的四种激光波长（具有405、488、561、640 nm的URGB激光模块）。 - 结合光学显微与共聚焦成像 高效研究样品 扩展成像范围 页面内容 结合光学显微与共聚焦成像 高端共聚焦平台LSM 900专为高要求的二维和三维材料应用而开发。 - 用非接触式共聚焦成像来表征形貌结构和评估表面粗糙度 以无损方式测量涂层和薄膜的厚度 使用一系列成像技术，包括光学衬度或共聚焦模式下的偏光和荧光 在反射光下表征金相样品，或在透射光下表征岩石或聚合物的薄片 高效研究样品 无需切换显微镜，即可进行分析和成像，节约设置仪器的时间，更快获得结果。 - 为了对光切面进行成像，还需要控制激光束进行X、Y方向的扫描。扫描时，焦平面内的信息会呈现亮色，而焦平面外的信息会呈现暗色。 ## 来源 - 官方页面：https://www.zeiss.com.cn/microscopy/products/light-microscopes/confocal-microscopes/lsm-900-for-materials.html - 采集时间：2026-07-26T08:58:53.679Z