蔡司Sigma系列——场发射扫描电子显微镜

## 官方资料摘要 品牌方页面标题：蔡司Sigma系列——场发射扫描电子显微镜 蔡司场发射扫描电子显微镜Sigma系列，具有高质量的成像和分析能力，将先进的场发射扫描电子显微镜技术与优秀的用户体验完美结合。其直观的4步工作流程，在更短的时间内获得更多的数据，提高测试与生产效率。结合蔡司原位电镜实验平台，可以实现自动智能化的原位实验工作流程，高效率获取高通量、高质量的原位实验数据。领先的EDS几何设计保证了出色的元素分析性能，分析速度高、精度好、结果可靠。高分辨、全分析、多扩展、强智能、广应用，全新Sigma系列是助力于材料研究、生命科学和工业检测等领域的“多面手”。系列含两款机型：Sigma 360和Sigma 560。 ## 官方信息要点 - 您可以将其用于新材料和颗粒的质量监测，或用于生物和地质样品的研究。在高分辨率成像方面精益求精——采用低电压，在1 kV或更低电压下获得更佳的分辨率和衬度。它出色的EDS几何学设计可执行高级显微分析，以两倍的速度和更高的精度获取分析数据。 - 可在1 kV和更低电压条件下分辨差异 增强的分辨率，优化的衬度 光学镜筒是成像和分析性能的关键。Sigma配备蔡司Gemini 1电子光学系统，可对任何样品提供出色的成像分辨率，尤其是在低电压条件下。 - 对要求严苛的样品能够轻松成像 可在1 kV和更低电压条件下分辨差异 在1 kV或甚至在500 V时实现信息量丰富的成像和分析：Sigma 560的低电压分辨率规定500 V时为1.5 nm。 - Gemini 1光学镜筒与探测器截面示意图 灵活探测 Sigma配备了一系列不同的探测器，通过新探测技术对您的样品进行表征。使用ETSE和Inlens探测器的高真空模式可获取表面形貌的高分辨率信息。使用VPSE或C2D探测器的可变压力模式可获得清晰图像。使用aSTEM探测器可进行高分辨率透射电子成像。 - 氧化铝（Al 2 O 3 ）球体。在500 V表面信息敏感条件下高分辨率成像，可以看到烧结颗粒的表面梯度，某些梯度之间的距离仅为3 nm。Sigma 560，500 V，Inlens SE。 ## 来源 - 官方页面：https://www.zeiss.com.cn/microscopy/products/sem-fib-sem/sem/sigma.html - 采集时间：2026-07-26T08:58:53.679Z