型号: ZEISS Xradia 620 Versa X-ray Microscope

蔡司Versa高级三维X射线显微镜(XRM)

蔡司Versa高级三维X射线显微镜(XRM)

产品简介

蔡司Versa系列X射线显微镜(XRM),亚微米级三维X射线无损扫描成像解决方案,凭借创新的X射线源加光学放大量级成像架构与RaaD大工作距离高分辨率技术,突破传统microCT技术局限,在大工作距离下也能实现450-500nm的真实空间分辨率。系列包含三款机型:VersaXRM 730、VersaXRM 615、Xradia 515 Versa。搭载AI驱动的 DeepRecon Pro深度学习重建技术与ZEN navx智能导航系统。利用快速扫描模式Fast mode可实现一分钟快速采集扫描,支持4D原位动态观测与多尺度关联成像。广泛应用于材料科学(能源材料/金属材料/复合材料/高分子材料/陶瓷/仿生和生物医用材料等)、半导体封装失效分析、电池研究和检测、增材制造检测、地质油气、古生物、工业质量控制、生物制药及生命科学领域,为前沿科研探索与工业检测提供坚实技术支撑。

支持按工艺目标、样本类型与通量要求进行选型建议。

型号ZEISS Xradia 620 Versa X-ray Microscope
系列未配置
适配场景可按工艺需求定制
## 官方资料摘要 品牌方页面标题:蔡司Versa高级三维X射线显微镜(XRM) 蔡司Versa系列X射线显微镜(XRM),亚微米级三维X射线无损扫描成像解决方案,凭借创新的X射线源加光学放大量级成像架构与RaaD大工作距离高分辨率技术,突破传统microCT技术局限,在大工作距离下也能实现450-500nm的真实空间分辨率。系列包含三款机型:VersaXRM 730、VersaXRM 615、Xradia 515 Versa。搭载AI驱动的 DeepRecon Pro深度学习重建技术与ZEN navx智能导航系统。利用快速扫描模式Fast mode可实现一分钟快速采集扫描,支持4D原位动态观测与多尺度关联成像。 ## 官方信息要点 - 蔡司EVO 操作直观的模块化扫描电子显微镜平台,适用于日常检测与研究应用 蔡司GeminiSEM FE-SEM用于多用途、高分辨率成像和表征。 - VersaXRM 615 蔡司VersaXRM® 615 平台在科学和工业研究领域为您开启多样化应用的新境界。这一经济高效的高端X射线显微镜解决方案提供先进的分辨率和衬度,进一步推动了无损成像的发展,以加快研究进展。其创新的X射线源和光学技术不仅确保了成像质量,还实现了快速的断层扫描。 - 如果您的需求已经超过了原位实验的分辨率极限,可将蔡司Xradia microCT或XRM升级为VersaXRM 730 X射线显微镜,并利用RaaD技术实现原位样品仓或装置内样品的高性能断层扫描成像。 - 针对项目的关联样品的整个工作流。最初的XRM扫描突出显示关键区域,以进行更高分辨率成像,并确定体积内薄片取向的目标位置。随后执行包括电子和光学显微镜的二维分析,以此与原位显微分析的数据进行关联。 - 小鼠模型在生理学和遗传方面与人类高度相似,因此是遗传研究的重要工具。无损X射线显微镜是研究此类样品的理想成像技术。通过碘染色的E15.5小鼠胚胎在VersaXRM 730上使用FAST模式进行成像,总扫描时间为6分钟。样品由贝勒医学院的Chih-Wei Logan Hsu提供。 ## 来源 - 官方页面:https://www.zeiss.com.cn/microscopy/products/x-ray-microscopy/versaxrm.html - 采集时间:2026-07-26T08:58:53.679Z
型号ZEISS Xradia 620 Versa X-ray Microscope
系列未配置
适配场景可按工艺需求定制