
ZEISS Crossbeam 350
蔡司Crossbeam 350 FIB-SEM | 灵活成像与样品制备
蔡司Crossbeam 350是专为多用户共享平台打造的灵活型FIB-SEM聚焦离子束双束电镜,可为科研和工业工作流提供可靠的高分辨率成像分析、TEM样品制备以及灵活的配置方案。独特的无漏磁电子镜筒实现真正边切边看,低电压下获得高分辨率电子图像,可实现大尺寸到纳米精度的切割。通过加装飞秒激光模块,Crossbeam的加工效率和尺度可进一步拓展,同时可以满足多种微纳加工需求。适配高校分析测试平台、科研院所、半导体工厂、电池企业等各类客户,可完成半导体失效分析、锂电池隔膜表征、复合材料三维断层扫描、生物样品低电压SEM显微成像以及高质量TEM薄片制样。











